◇ 测量所有材料的硬度
・电镀、硬膜等薄膜材料
・树脂材料、薄膜材料
・DLC等超薄薄膜
・功能性树脂薄膜和表面改性薄膜
・微粒子、粉体材料
◇ELIONIX -5的特点
・第五代“ELIONIX ”
・通过抑制测量环境中的干扰实现高数据再现性
・因为它是日本制造的,所以它有一个友好的图形用户界面。
・支持从 0.5 μN 到 2,000 mN 的广泛测试负载
◇纳米压痕试验
・可以获得薄膜、极端表面和微小区域的硬度和弹性模量等机械性能。
・不需要压痕观察,因为特性是通过分析负载-位移曲线获得的。
・符合ISO 14577-1/JIS Z 2255
◇ 数据重现性和可维护性
1、温控机构
・抑制样品和试验机的热膨胀
・挡风玻璃内的温度控制在±0.1℃
・测量部件采用低热膨胀材料(nobinite)。
・阻断外部气流的影响
2、高精度定位平台
・自主开发的电子束光刻设备采用高精度平台技术
・能够以0.1μm为单位进行定位
・以 2,000 倍的观察倍率测量任何位置(使用 20 倍标准物镜和数码变焦时)
3、防振机构
・耐振动的楔形高精度平台
・标配主动防震台
4、软件
・压头尖端校正、温漂校正、日常检查提醒等辅助功能
・通过多年经验培养的可操作性
5、数据重现性
・通过抑制振动和温度变化等干扰影响的机制提高了数据再现性。
・即使在连续测量中也能获得稳定的数据
6、可维护性
・高负荷单元和低负荷单元的更换简单
・通过更换装置校准设备减少了设备停机时间。
◇负载单元
▶ 高负载单元
・可进行5μN~2N的试验。
・适用于从金属材料到高分子材料的各种材料的硬度试验。
▶ 低负载单元
· 兼容 0.5 μN 至 10 mN。
· 对于软质材料(弹性模量:几GPa以下)和10nm以下压痕深度的测量具有出色的再现性和稳定性,可以对100nm以下的超薄膜进行纳米压痕测试。
· 适用于评价UV固化树脂、low-k薄膜、硅橡胶等弹性材料、DLC薄膜等超薄硬质薄膜等功能性树脂的机械特性。
负荷/负荷分辨率 | 高负荷单元:5 μN ~ 2,000 mN / 5 nN 低负荷单元:0.5 μN~10 mN / 0.03 nN |
负荷方式 | 电磁力 |
测量范围 | ± 50 μm |
测量分辨率 | 0.3 pm |
测量方法 | 光学的 |
试样尺寸(代表值) | φ 50 x t 3.5 mm |
可测量区域 | X 50, Y 40 mm |
最小移动步数 | 0.1 μm |
① 选项
加热支架 | 高负荷单元:最高加热温度250℃ 低负荷单元:最高加热温度 180 ℃ |
冷却支架 | 控温范围:-30 ℃ ~ 100 ℃ |
树脂包埋架 | 用于横截面观察等的树脂包埋样品架 |
定制支架和夹具 | 我们将根据样品进行设计和制造。 |
② 测量选项
表面轮廓试验 | 是用压子取得样品表面的形状,能瞄准的功能。 对凹凸大的样品有效。 |
粘弹性实验 | 通过在恒定负载下将压头压入样品以产生任何频率的负载,可以测量储能模量 (E')、损耗模量 (E") 和损耗模量 (tan δ)。 另外,通过并用加热台,可以评价玻璃化转变温度(Tg)。 |
软化温度测量 | 可以通过在恒定负载下保持压头与样品接触的同时用加热支架升高温度来测量软化温度。 |
水下测试 | 可以在水中进行硬度测试。 |
粒子强度测试 (仅限高负荷单元) | 该方法使用扁平压头压缩或压碎细小颗粒并测量其强度。 |
电阻测试 (仅限高负荷单元) | 颗粒强度测试的另一个特点是能够在压缩导电颗粒时测量其电阻。 |
三位一体 | 可以与其他测试(我们的 ERA 系列的 3D 测量功能、EDS/EBSD 分析等)联动。 |
表面力测试 (仅限低负荷单元) | Elionix深耕的精密测量技术和定位技术,让轻松定量测量表面力成为可能。 *表面力:将接触的两种物质的表面分开所需的力 |